射線檢測(cè)儀器的介紹：

　　利用射線對(duì)材料或試件進(jìn)行透照，檢查其內(nèi)部缺陷或根據(jù)衍射特性對(duì)其晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析的技術(shù)。

　　作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的射線檢測(cè)（Radiology），在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。目前射線檢測(cè)按照美國(guó)材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)（ASTM）的定義可以分為：照相檢測(cè)、實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、層析檢測(cè)和其它射線檢測(cè)技術(shù)四類。、 　　X射線與自然光并沒(méi)有本質(zhì)的區(qū)別，都是電磁波，只是X射線的光量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光。它能夠穿透可見(jiàn)光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時(shí)將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，可以使原子發(fā)生電離，使某些物質(zhì)發(fā)出熒光，還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部區(qū)域存在缺陷，它將改變物體對(duì)射線的衰減，引起透射射線強(qiáng)度的變化，這樣，采用一定的檢測(cè)方法，比如利用膠片感光，來(lái)檢測(cè)透射線強(qiáng)度，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小。

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